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粒度檢測方法優(yōu)缺點(diǎn)介紹

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 原標題；各種常用粒度測試方法各有那些優(yōu)缺點(diǎn) 

   粉體材料有很多物理指標，主要反映在組成粉體材料顆粒的一些參數，包括粒度、粒形、表面積、孔徑、帶電特性以及堆積性能和流動(dòng)性能等。粒度測試是一門(mén)跨學(xué)科、跨領(lǐng)域技術(shù)，它需要面向幾十個(gè)領(lǐng)域中的各式粉體和千差萬(wàn)別的用戶(hù)，因此要求從事顆粒測試工作的人員具有豐富的理論知識和實(shí)踐經(jīng)驗。其中理論知識包括顆粒學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、材料學(xué)、力學(xué)、機械學(xué)、電子學(xué)和計算機學(xué)等諸多學(xué)科，實(shí)踐經(jīng)驗則需要逐漸積累，在工作和學(xué)習中逐步提高，因此粒度檢測是一項專(zhuān)業(yè)性和實(shí)踐性都很強的工作。 　


   (1) 激光法：

   優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，測試速度快，測試范圍大，重復性和準確性好，可實(shí)現在線(xiàn)測量和干法測量。

    缺點(diǎn)：結果受分布模型影響較大，儀器造價(jià)較高。


   (2) 動(dòng)態(tài)圖像法：

   由顯微鏡、高速攝像機、樣品分散系統、控制系統以及高速圖像分析軟件組成。優(yōu)點(diǎn)：顆粒圖像直觀(guān)清晰，操作簡(jiǎn)便、拍攝與分析速度快、重復性和準確性好，可干法也可濕法，可測量最大顆粒，可進(jìn)行圓形度、長(cháng)徑比等形貌分析。

    缺 點(diǎn)：分析細顆粒（如-2 μm ）圖像不清晰，誤差較大，成本較高。
  

   (3) 靜態(tài)圖像法：

   由顯微鏡、攝像機和圖像分析軟件組成。優(yōu)點(diǎn)：成本較低，操作簡(jiǎn)單，圖像清晰、可進(jìn)行圓形度、長(cháng)徑比等形貌分析。缺點(diǎn)：分析速度慢，無(wú)法分析細 顆粒（如-2 μm ）。
   

   (4) 電鏡法：

    用電子顯微鏡（掃描電鏡或透射電鏡）拍攝顆粒圖像，然后再進(jìn)行圖像 分析的方法。優(yōu)點(diǎn)：能精確分析納米顆粒和超細顆粒，圖像清晰，表面紋理可見(jiàn)，分辨率高，是表征納米材料粒度的標準方法。

     缺點(diǎn)：?jiǎn)畏鶊D像中的顆粒數少、代表性差、儀器價(jià)格昂貴。
   

    (5) 光阻法：

    優(yōu)點(diǎn)：測試速度快，可測液體或氣體中顆粒數，分辨力高，樣品用量少。

     缺點(diǎn)：進(jìn)樣系統比較復雜，不適用粒徑<1μm 的樣品。
   

    (6) 電阻法：

     優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，可測顆粒數，等效概念明確，速度快，準確性好。

      缺點(diǎn)：不適合測量超細樣品和寬分布樣品，更換小孔管比較麻煩。
   

    (7) 沉降法：

     優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便，儀器可以連續運行，價(jià)格較低，準確性和重復性較好，測試范圍較大。

      缺點(diǎn)：測試時(shí)間較長(cháng)，操作較復雜，結果易受環(huán)境因素影響。
   

    (8) 篩分法：

    優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀(guān)、設備造價(jià)低，常用于大于 38 μm ?。?00 　目）的樣品。

     缺點(diǎn)：不能用于超細樣品；結果受人為因素和篩孔變形影響較大。
   

    (9) 動(dòng)態(tài)光散射法：

    動(dòng)態(tài)光散射法是測試納米材料粒度分布的常用方法。首先將納米顆粒放到合適的液體（通常為純凈水）中制成懸浮液，懸浮液中的納米顆粒由于受到 水分子熱運動(dòng)（布朗運動(dòng)）的碰撞而進(jìn)行不規則運動(dòng)。當一束水平偏振的激光照射到這些顆粒上時(shí)，會(huì )在引起的散射光強的瞬間變化。這些瞬間變化的散射光信號的幅度、頻率等特征與顆粒大小有關(guān)，對這些信號進(jìn)行相關(guān)運算就可以得到呢米顆粒的粒度分布了。.

    優(yōu)點(diǎn)：測試范圍寬（從納米到微米）、測試速度快，重復性好，操作簡(jiǎn)便。缺點(diǎn)：測試寬分布的納米材料誤差及較大。
   

    (10)超聲波法：

    優(yōu)點(diǎn)：可對高濃度漿料直接現場(chǎng)測量，無(wú)需取樣。缺點(diǎn)：分辨率較低，準確性和重復性較差，結果受環(huán)境因素影響較大。
  

   (11)透氣法（費氏法）：

    優(yōu)點(diǎn)：儀器價(jià)格低，不用對樣品進(jìn)行分散，可直接測量干粉，可測磁性材料粉體。

     缺點(diǎn)：只能得到平均粒度值，不能測粒度分布。